概要
大塚電子の膜厚測定システムは非接触で高速測定が可能なため、フィルムを搬送しながら測定し、厚みの管理が可能です。
ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全幅・全長フィルム検査を実現します。
活用例
大塚電子の膜厚測定システムは非接触で高速測定が可能なため、フィルムを搬送しながら測定し、厚みの管理が可能です。
ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全幅・全長フィルム検査を実現します。
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