ラインスキャン膜厚計®
の開発発想
従来発想
製品の特定箇所のみを測定して
品質を判断する
インライン測定ではスポット測定が一般的であり、
製品全面の品質把握には限界がありました。
新発想
製品の全幅・全長を測定して
品質を保証する
ラインスキャン膜厚計®はフィルムの全幅・全長の膜厚を
測定し、実測データに基づく品質保証を実現します。
さらに、工程異常や予兆を検知し、フィードバックする
ことで、歩留まり向上にも貢献します。
従来のインライン
膜厚計の課題
- 顧客やエンドユーザーから、
より厳しく膜厚管理を要求
されている - 歩留まり向上のため全幅・全長
抜けの無い膜厚異常を検知したい - フィルムのバタつきがネックで
うまく測定することができない
ラインスキャン
膜厚計®なら!

スポット測定では
把握できなかった
全幅・全長測定で、見えなかった膜厚変化を可視化します。
コンター図・TD/MD方向のトレンド表示により製品全体の膜厚分布を把握し、品質保証や工程管理に活用できます。

Use Case 活用例
ラインスキャン膜厚計®
だから解決できる
技術課題をご紹介します
-
課題1 厳しい品質要求に対応したい
全幅・全長測定による実測データで品質保証を実現膜厚分布を可視化することが可能

-
課題2 異常発生時の原因調査に
時間がかかる膜厚全面測定をしているため
異常場所の特定が可能フィルムのどの場所でどのような異常が発生したか確認が可能

-
課題3 幅広サンプルを効率よく管理したい
最大10m幅まで対応可能TD方向にカメラを複数台設置し、一括管理が可能

-
課題4 ライン速度を落とさず測定したい
最短1msecの高速測定が可能生産条件を変えず、最小1mm程度のスポット欠陥の検出が可能

-
課題5 フィルムのバタつきで
安定測定が
できないバタつきの影響を受けにくい
独自光学系独自光学系により安定した測定が可能

閉じる
Features 特長
ラインスキャン方式の採用で
「抜け」のない
全面フィルム検査を実現
-
特長 01 MD・TD方向において、
1 mmの空間分解能を実現し、高精度な測定が可能従来のスポット測定は、測定ポイント間のデータが得られないため、フィルム全幅・全長の状態を把握するうえで課題がありました。ラインスキャン膜厚計🄬は、高分解能かつ高速な連続測定に対応しており、最短1msecで測定できます。全幅・全長の膜厚データを取得することで、製品品質の向上と工程異常の早期検知に貢献します。

-
特長 02 0.1~300μmの幅広い
膜厚測定レンジ測定レンジが広いため、フィルム基材とコーティング膜の膜厚分布を、1システムで測定できます。

-
特長 03 品質管理用にオフライン
タイプもラインナップ開発・品質管理用途で使用可能です。
最大幅250mmのカットサンプルの膜厚分布を数十秒で測定が可能です。
Video 動画
-
ラインスキャン膜厚計
Specs 仕様
| 膜厚範囲 | 0.1~300 μm |
|---|---|
| 測定幅 | 500 mm~最大10 m |
| 測定間隔 | 1 ms~ |
| 装置サイズ(W×D×H) | 81×140×343 mm |
| 重量 | 4 kg(ヘッドのみ) |
| 最大消費電力 | AC100 V±10% 125VA |
Contact お問い合わせ
お気軽にご依頼・ご相談ください
大塚電子の会員サイト
「大塚電子会員サイト」では、様々なサービスをご利用いただけます。
皆様の専門知識の向上と実務のサポートを目指して、今後も様々なコンテンツを提供してまいります。
詳しくはこちら
会員サイトの主な機能
-
製品カタログ・技術資料・
ダウンロード -
Webセミナーや製品紹介など
会員限定動画が更新中 -
技術相談や測定支援・受託分析
予約受付
お気軽にご依頼・ご相談ください


