ゼータ電位・粒子径測定システム
本製品は、粒子径およびゼータ電位測定専用装置です。
ELSZneoSEではELSZneoの新機能をオプション化しています。
ご用途に合わせて必要な機能を必要なだけカスタマイズすることが可能です。
ELSZneoSEではELSZneoの新機能をオプション化しています。
ご用途に合わせて必要な機能を必要なだけカスタマイズすることが可能です。
測定対象
- 新規機能性材料
- セラミックス・色材工業
- 半導体
- 高分子・化学工業
- 医薬品・食品工業
測定項目
- ゼータ電位
- 粒子径
特長
- 用途に合わせて機能を追加可能
- 標準フローセルで粒子径とゼータ電位を連続して測定可能
- 希薄から濃厚溶液（～40%）まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能
- 平板状サンプルのゼータ電位を高塩濃度下で測定が可能
- 0～90℃の広い温度範囲で測定が可能
- 温度グラジエント機能によりタンパク質などの変性・相転移温度解析が可能
- セル内の電気浸透流を実測、プロット解析により高精度なゼータ電位測定結果を提供
- 蛍光カットフィルター取付け可能（オプション）
ゼータ電位・粒子径測定システム ELSZneoSEとは
界面化学、無機物、ライフサイエンス、半導体、高分子、生物、薬学、医学分野などにおいて、微粒子のみならず、フィルムや平板状試料の表面科学を取り扱う基礎研究、応用研究に最適です。
測定項目
ゼータ電位
粒子径
用途
新規機能性材料分野
燃料電池関連
バイオナノ関連
ナノバブル
生体適合性材料など
セラミックス・色材工業分野
セラミックス(シリカ・アルミナ・酸化チタンなど)
無機ゾルの表面改質・分散・凝集制御
バイオナノ関連
顔料（カーボンブラック・有機顔料）の分散・凝集制御
スラリー状サンプル
カラーフィルター
浮遊選鉱物の捕集材吸着の研究
半導体分野
シリコンウェハー表面への異物付着のメカニズム解明
研磨剤や添加剤とウェハー表面との相互作用の研究
CMPスラリー
高分子・化学工業分野
エマルション（塗料・接着剤）の分散・凝集制御
ラテックスの表面改質（医薬用・工業用）
高分子電解質（ポリスチレンスルフォネート・ポリカルボン酸など）の機能性の研究
機能性ナノ粒子
紙・パルプの製紙工程制御およびパルプ添加材の研究
医薬品・食品工業分野
エマルション（食品・香料・医療・化粧品）の分散・凝集制御
タンパク質の機能性
リポソーム・ベシクルの分散・凝集制御
界面活性剤（ミセル）の機能性
原理
測定例
オプション
仕様
測定項目
ゼータ電位・粒子径
仕様
測定範囲
対応範囲
標準セルについて
標準フローセルユニット
粒子径とゼータ電位が測定可能なセルユニット
粒子径セルユニット
粒子径が測定可能な」セルユニット。
市販の角セルが使用可能
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